偏光應力儀可對透明及弱色材料的雙折射率進行檢測,并通過Senarmont補償法計算出光程誤差不超過10nm的雙折射率的值。并通過偏振光對雙折射率的分布進行檢測分析。折射率的分布和大小直接反應出材料應力的分布與大小。
偏光應力儀的檢測方法:
1.Crossed Nicols觀測法
2.Sensitive Color Method感光色檢測法
3.SenarmonMethod補償法
Senarmont補償法可以進行應力定量分析檢測。打開電源,未放樣品整個視野范圍是黑褐色的,放入樣品,不旋轉(zhuǎn)檢偏鏡,觀測出亮點即為應力較大點。旋轉(zhuǎn)檢偏鏡上的刻度盤,直至亮點變成黑褐色,記錄此時刻度盤旋轉(zhuǎn)的角度及該點的厚度,即可用公式換算出應力值。
計算公式:標準光延遲nm/mm=(3.14nm*檢偏鏡旋轉(zhuǎn)角度)/被測點的厚度mm
應力Mpa=光程差nm/(被測點的光路長cm*光彈系數(shù)(nm/cm/Mpa))
偏光應力儀的適用范圍:
l適合于檢測燈等有復雜構(gòu)造的產(chǎn)品。
l檢測高密度的塑料產(chǎn)品,如隱形眼鏡等。
l檢測光學晶體,如氟化鈣(螢石)等。
偏光應力儀是應用偏振光干涉原理檢查玻璃內(nèi)應力或晶體雙折射效應的儀器。由于儀器備有靈敏色片,并應用1/4波片補償方法,因此本儀器不僅可以根據(jù)偏振場中的干涉色序定性或半定量的測量玻璃的內(nèi)應力,還可以準確的測量出玻璃的內(nèi)應力數(shù)值。